Sistema de Metrología Sensofar S Wide
Sistema perfilador 3D de gran área Sensofar S Wide
El S Wide es un sistema dedicado diseñado para medir rápidamente grandes áreas de muestra de hasta 300 x 300 mm. Proporciona todos los beneficios de un microscopio digital integrado en un instrumento de medición de alta resolución. Extremadamente fácil de usar con la adquisición con un solo botón.
Las principaples características del sistema S Wide:
- Otorgar repetibilidad de altura submicrónica en toda el área extendida.
- Poder obtener mediciónes de altura de un solo disparo hasta 40 mm sin escaneo Z.
- Compuesto por lentes bitelecéntricas con muy baja distorsión de campo que proporcionan una metrología precisa.
- Desviación de forma a partir de los modelos de 3D CAD proporcionando la diferencia geométrica y la medición de tolerancia.
- Trazabilidad: Los sistemas se calibran utilizando estándares trazables siguiendo los lineamientos de la norma ISO 25178 parte 7 para: factor de amplificación Z,
dimensiones laterales XY, error de planitud, así como parcentricidad y parfocalidad.
El sistema S Wide otorga soluciones para:
- Fabricación avanzada
- Arqueología y Paleontología
- Electrónica de consumo
- Dispositivos médicos
- Moldura
- Óptica
- Industria relojera
| Mercado: Investigación, Industria, Criminalística |
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Sistema de metrología Sensofar S Wide
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