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Productos - Microscopía confocal de Industria
Microscopio Confocal de materiales Leica DCM8
Perfilómetro tridimensional de tecnología dual combina la adquisición de imágenes confocales con la interferometría
Leica Microsystems presenta una solución completa que combina las ventajas de ambas tecnologías, confocal e interfero-métrica: el microscopio Leica DCM 8 de tecnología dual para la medición tridimensional. El Leica DCM8, de diseño robusto y compacto, es el instrumento de primera elección cuando se trata de evaluar de forma rápida y sin contacto la micro y nano geometría de superficies de materiales industriales.

El innovador Leica DCM8 está indicado para una amplia gama de aplicaciones de medición en las que se requieren elevadas velocidades y resoluciones de hasta 0.1 nanómetros como son, por ejemplo, las mediciones en laboratorios de investigación y desarrollo o análisis de calidad, así como los controles de procesos realizados en línea de forma automatizada.
3 Sistemas en uno:
- Microscopio digital en color para aplicaciones de campo claro y campo oscuro.
- Sistema de adquisición y medición confocal de alta resolución.
- Perfilómetro óptico interferométrico con tecnología dual.
Caracteristicas de la Perfilometria Confocal

El modo confocal del Leica DCM8 se emplea para medir la topografía de superficies de muy rugosas a lisas.
Pueden visualizarse incluso estructuras superficiales finas sin tocar la superficie de la muestra.
En cuestión de segundos, la muestra es escaneada verticalmente en una serie de planos predefinidos de manera que cada punto de la superficie pase a través del nivel del foco.
Toda información de la imagen que se encuentra fuera del foco es eliminada.
De este modo, las imágenes confocales adquiridas proporcionan información tridimensional detallada con elevada resolución y contraste.
La perfilometría confocal realizada con el Leica DCM8 proporciona máxima resolución lateral en un abrir y cerrar de ojos. No obstante, la razón principal por la que se aplica la adquisición de imágenes confocales para la perfilometría es la posibilidad de realizar mediciones en la dimensión vertical. Los objetivos de apertura numérica elevada (0.95) y gran aumento facilitan la medición de superficies lisas que pueden presentar incluso desniveles con una inclinación de más de 70°.
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